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磁粉探傷靈敏度試片A1\\C\\D\\M1 產(chǎn)品型號(hào):磁粉探傷靈敏度試片A1 產(chǎn)品簡(jiǎn)介:A型靈敏度試片最先由日本無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出,以后為多個(gè)國(guó)家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對(duì)幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工作,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過(guò)程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁
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